Maximale structuurinformatie achterhalen voor stralingsgevoelige nanostructuren met lage dosis raster transmissieelektronenmicroscopie. 01/10/2019 - 30/09/2022

Abstract

De eigenschappen van nanomaterialen worden bepaald door hun driedimensionale (3D) atomaire structuur. Tegenwoordig bestaan er kwantitatieve methoden die toelaten om de 3D atomaire structuurinformatie te achterhalen op basis van tweedimensionale (2D) raster transmissie-elektronenmicroscopie (STEM) beelden van materialen die een hoge elektronendosis kunnen weerstaan. Het doel van dit project is om kwantitatieve methoden te ontwikkelen die toelaat atoomposities, atoomtypes en aantal atomen te schatten op basis van 2D STEM beelden opgenomen met een lage elektronendosis.

Onderzoeker(s)

Onderzoeksgroep(en)

Maximale structuurinformatie achterhalen voor stralingsgevoelige nanostructuren met lage dosis raster transmissie-elektronenmicroscopie 01/10/2017 - 30/09/2019

Abstract

De eigenschappen van nanomaterialen worden bepaald door hun driedimensionale (3D) atomaire structuur. Tegenwoordig bestaan er kwantitatieve methoden die toelaten om de 3D atomaire structuurinformatie te achterhalen op basis van tweedimensionale (2D) raster transmissie-elektronenmicroscopie (STEM) beelden van materialen die een hoge elektronendosis kunnen weerstaan. Het doel van dit project is om kwantitatieve methoden te ontwikkelen die toelaat atoomposities, atoomtypes en aantal atomen te schatten op basis van 2D STEM beelden opgenomen met een lage elektronendosis.

Onderzoeker(s)

Onderzoeksgroep(en)