Capita selecta: X-ray analysis and analytical imaging

Studiegidsnr:2001WETXAB
Vakgebied:Chemie
Tweejaarlijks opleidingsonderdeel:Gedoceerd in acad.jaar aanvangend in ONEVEN jaar
Academiejaar:2019-2020
Semester:1e semester
Contacturen:50
Studiepunten:6
Studiebelasting:168
Contractrestrictie(s):Geen contractrestrictie
Instructietaal:Engels
Examen:1e semester
Lesgever(s)Koen Janssens
Piet Van Espen

Deze cursusinformatie is bedoeld om de student te ondersteunen bij het verwerken van de leerstof

3. Inhoud *

 

De volgende onderwerpen komen aan bod: 

 

(a) bulk-XRF: energie- en golflengte dispersieve instrumentatie en electronica, 

(b) kwantitatieve analyse met behulp van bulk-XRF: spectrum evaluatie en kwantificatiemodellen, 

(c) micro-XRF: X-straal optica, toepassingen, vergelijking met andere micro-analytische methoden; 

(d) total reflection XRF: principe, voor- en nadelen ten opzichte van conventionele XRF, 

(e) proton-induced X-ray emission en andere IBA (ion-beam analysis) methoden, 

(f) synchrotron straling: opbouw van een synchrotron, voordelen van het gebruik van synchrotron straling met inbegrip van vergelijking met conventionele vormen van XRF, kristal- en multilaag-monochromatoren 

(g) X-straal absorptie spektroskopie, X-straal foto-electron spectroscopie en Auger electron spectroscopie en 

(h) X-straal radiografie en tomografie.