UAntwerpen
  • menu
  • zoek
  • inhoud
  • Studeren
  • Onderzoek
  • Studentenleven
  • Over UAntwerpen
  • Bibliotheek
  • Vacatures
  • Kalender
  • Contact

Login

  • Studentenportaal
  • Personeelsportaal
  • Online aanmelding
  • Webadmin
  • nl
  • en
Erik Raman emeritus occasionele opdracht
  • Onderzoek
  • Publicaties

Publicaties Erik Raman

  • Contact
  • Erik Raman

A model-based correction method for beam hardening artefacts in X-ray microtomography

Bron
Journal of X-ray science and technology - ISSN 0895-3996-12:1 (2004) p. 53-57
Auteur(s)
    Elke Van de Casteele, Dirk Van Dyck, Jan Sijbers, Erik Raman
Citatielink

The effect of beam hardening on resolution in X-ray microtomography

Bron
SPIE Medical Imaging, San Diego, Calif., USA, February 14-19, 2004- () p. 2089-2096
Auteur(s)
    Elke Van de Casteele, Dirk Van Dyck, Jan Sijbers, Erik Raman
Citatielink

A model-based correction method for beam hardening artefacts in X-ray tomography

Bron
22nd Benelux Meeting on Systems & Control, Lommel, Belgium, March 19-21, 2003
Auteur(s)
    Elke Van de Casteele, Dirk Van Dyck, Jan Sijbers, Erik Raman
Citatielink

A bimodal energy model for correcting beam hardening artefacts in X-ray tomography

Bron
Proceedings of the 29th Annual Northeast Bioengineering Conference 2003, NJIT, N.J.
Auteur(s)
    Elke Van de Casteele, Dirk Van Dyck, Jan Sijbers, Erik Raman
Citatielink

An energy-based beam hardening model in tomography

Bron
Physics in medicine & biology - ISSN 0031-9155-47 (2002) p. 4181-4190
Auteur(s)
    Elke Van de Casteele, Dirk Van Dyck, Jan Sijbers, Erik Raman
Citatielink
Meer van deze auteur
  • © UAntwerpen
  • Privacybeleid
  • Cookiebeleid
  • Gebruiksvoorwaarden

Cookie consent

De UAntwerpen maakt gebruik van cookies en daarmee vergelijkbare technieken voor het functioneren, meten en optimaliseren van de website. Ook worden er cookies geplaatst om b.v. YouTubefilmpjes te kunnen tonen en voor marketingdoeleinden. Deze laatste categorie betreffen de tracking cookies. Uw internetgedrag kan worden gevolgd door middel van deze tracking cookies Door op 'Accepteer alle cookies' te klikken gaat u hiermee akkoord. Lees ook het UAntwerpen Privacy statement

Stel je persoonlijke voorkeuren in

Cookie-voorkeuren

Ze zijn noodzakelijk voor de goede werking van de website en kunnen niet worden uitgeschakeld. Ze worden over het algemeen enkel gedefinieerd naar aanleiding van acties die u uitvoert en die u in staat stellen om gebruik te maken van de diensten die wij aanbieden (definitie van uw privacyvoorkeuren, connectie, invullen van formulieren, enz.).
U kunt uw browser zo configureren dat deze cookies worden geblokkeerd of dat u over deze cookies wordt gewaarschuwd, maar daarna zullen sommige delen van de site niet meer werken.

Ze stellen ons in staat om surfpatronen te meten en te bepalen welke rubrieken van onze website werden bezocht, en om gewoontes te meten en onze diensten te verbeteren. Ze laten ons zien welke pagina's het meest en het minst populair zijn en hoe bezoekers zich verplaatsen op de site.
Als u deze cookies niet toestaat, weten we niet wanneer u onze site hebt bezocht en kunnen we de gewoontes ervan niet controleren.

Ze maken een verbeterde functionaliteit en maatwerk van de site mogelijk. Ze kunnen geactiveerd worden door ons of door derden waarvan wij de diensten aan onze pagina's hebben toegevoegd. Als u deze cookies niet toestaat, kan het zijn dat sommige of alle services niet goed werken.

Ze kunnen door onze reclamepartners op onze site worden ingesteld om een profiel van uw interesses op te bouwen en u relevante advertenties op andere sites te tonen. Ze slaan niet direct persoonlijke gegevens op, maar zijn gebaseerd op de unieke identificatie van uw browser en apparaat. Als u deze cookies niet toestaat, zult u minder gerichte advertenties zien.

Voorkeuren opslaan