Koen Janssens

Gewoon hoogleraar

Onderzoek

Onderzoeksgroep

AXES

Expertise

  • Microscopische element analyse aan de hand van micro-XRF (laterale resolutie: ca. 30-40 micrometer; detectievermogen voor transitiemetalen: tot ca 50 ppm in glasachtige matrices).
  • Microscopische hoofdelementanalyse door middel van scanning electronen microscopie (laterale resolutie: ca 1 micrometer; detectielimiet : ca 0.1 %).
  • Lokale kwantitieve metaal analyse van sporen tot hoofd-componentenniveau in een varieteit aan vaste materials door middel van LA-ICP-MS (laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry).

Projecten

Hiernaast vindt u alle projecten die onder de naam van dit personeelslid in de onderzoeksdatabank Universiteit Antwerpen zijn opgenomen en waarbij dit personeelslid betrokken is, hetzij als promotor, copromotor of mandaathouder (o.a. FWO). Het gaat enkel over onderzoeksprojecten en mandaten die extern of intern op competitieve basis werden verworven.